Eintägiges Seminar mit Vorträgen zu folgendenThemenbereichen: Allgemeine Strategien zum Test elektronischer Baugruppen Optische Inspektionstechnologien (AOI/AXI) JTAG/Boundary Scan Chip-Embedded Instrumentation Funktionstest (FKT) Kombination verschiedener Testverfahren
Die Kombination aus Fachvorträgen, Gesprächen und begleitender Ausstellung bietet allen Teilnehmern des Technologietags Baugruppentest umfassende Informationen sowie eine einmalige Gelegenheit zum Erfahrungsaustaus